Artikelnummer :
SN74ABTH18646APM
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Logiktyp :
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Versorgungsspannung :
4.5V ~ 5.5V
Betriebstemperatur :
-40°C ~ 85°C
Befestigungsart :
Surface Mount
Supplier Device Package :
64-LQFP (10x10)