Artikelnummer :
8V18646AIPMREP
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
Anwendungen :
Circuit Board Testing
Schnittstelle :
4-Wire Test Access Port (TAP)
Spannungsversorgung :
2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package :
64-LQFP (10x10)
Befestigungsart :
Surface Mount