Texas Instruments - SN74BCT8374ADW

KEY Part #: K1320701

SN74BCT8374ADW Preise (USD) [9698Stück Lager]

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Artikelnummer:
SN74BCT8374ADW
Hersteller:
Texas Instruments
Detaillierte Beschreibung:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC.
Standardlieferzeit des Herstellers:
Auf Lager
Haltbarkeit:
Ein Jahr
Chip von:
Hongkong
RoHS:
Zahlungsmethode:
Versand weg:
Familienkategorien:
KEY Components Co., LTD ist ein Händler für elektronische Komponenten, der Produktkategorien anbietet, darunter: PMIC - Hot-Swap-Controller, Embedded - Mikrocontroller - anwendungsspezifisch, Linear - Videoverarbeitung, Linear - Verstärker - Spezialanwendungen, Linear - Verstärker - Audio, PMIC - Ladegeräte, PMIC - Energieverwaltung - spezialisiert and PMIC - Spannungsreferenz ...
Wettbewerbsvorteil:
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GB-T-27922
ISO-9001-2015
ISO-13485
ISO-14001
ISO-28000-2007
ISO-45001-2018

SN74BCT8374ADW Produkteigenschaften

Artikelnummer : SN74BCT8374ADW
Hersteller : Texas Instruments
Beschreibung : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Serie : 74BCT
Teilestatus : Active
Logiktyp : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung : 4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits : 8
Betriebstemperatur : 0°C ~ 70°C
Befestigungsart : Surface Mount
Paket / fall : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package : 24-SOIC