Artikelnummer :
SN74BCT8240ADWR
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Logiktyp :
Scan Test Device with Inverting Buffers
Versorgungsspannung :
4.5V ~ 5.5V
Betriebstemperatur :
0°C ~ 70°C
Befestigungsart :
Surface Mount
Paket / fall :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package :
24-SOIC