Artikelnummer :
SN74ABT8543DWRG4
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
Logiktyp :
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung :
4.5V ~ 5.5V
Betriebstemperatur :
-40°C ~ 85°C
Befestigungsart :
Surface Mount
Paket / fall :
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package :
28-SOIC