Artikelnummer :
SN74BCT8373ANT
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Logiktyp :
Scan Test Device with D-Type Latches
Versorgungsspannung :
4.5V ~ 5.5V
Betriebstemperatur :
0°C ~ 70°C
Befestigungsart :
Through Hole
Paket / fall :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Supplier Device Package :
24-PDIP