Artikelnummer :
SN74LVTH182512DGGR
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Logiktyp :
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung :
2.7V ~ 3.6V
Betriebstemperatur :
-40°C ~ 85°C
Befestigungsart :
Surface Mount
Paket / fall :
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Supplier Device Package :
64-TSSOP