SN74ABT8646DW Preise (USD) [9864Stück Lager]
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- Artikelnummer:
- SN74ABT8646DW
- Hersteller:
- Texas Instruments
- Detaillierte Beschreibung:
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC.
- Standardlieferzeit des Herstellers:
- Auf Lager
- Haltbarkeit:
- Ein Jahr
- Chip von:
- Hongkong
- RoHS:
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SN74ABT8646DW Produkteigenschaften
Artikelnummer :
SN74ABT8646DW
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Serie :
74ABT
Teilestatus :
Active
Logiktyp :
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung :
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits :
8
Betriebstemperatur :
-40°C ~ 85°C
Befestigungsart :
Surface Mount
Paket / fall :
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package :
28-SOIC
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