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- Artikelnummer:
- SN74BCT8373ADWRE4
- Hersteller:
- Texas Instruments
- Detaillierte Beschreibung:
- IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC.
- Standardlieferzeit des Herstellers:
- Auf Lager
- Haltbarkeit:
- Ein Jahr
- Chip von:
- Hongkong
- RoHS:
- Zahlungsmethode:
-
- Versand weg:
- Familienkategorien:
- KEY Components Co., LTD ist ein Händler für elektronische Komponenten, der Produktkategorien anbietet, darunter: Schnittstelle - Signalpuffer, Repeater, Splitter, PMIC - V / F- und F / V-Wandler, Schnittstelle - Signalabschlüsse, PMIC - ODER - Controller, ideale Dioden, Clock / Timing - Programmierbare Timer und Oszilla, Schnittstelle - Sensor- und Detektorschnittstellen, Schnittstelle - Controller and Datenerfassung - analoges Frontend (AFE) ...
- Wettbewerbsvorteil:
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SN74BCT8373ADWRE4 Produkteigenschaften
Artikelnummer :
SN74BCT8373ADWRE4
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Serie :
74BCT
Teilestatus :
Obsolete
Logiktyp :
Scan Test Device with D-Type Latches
Versorgungsspannung :
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits :
8
Betriebstemperatur :
0°C ~ 70°C
Befestigungsart :
Surface Mount
Paket / fall :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package :
24-SOIC
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