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- Artikelnummer:
- SN74BCT8373ADWRE4
- Hersteller:
- Texas Instruments
- Detaillierte Beschreibung:
- IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC.
- Standardlieferzeit des Herstellers:
- Auf Lager
- Haltbarkeit:
- Ein Jahr
- Chip von:
- Hongkong
- RoHS:
- Zahlungsmethode:
-
- Versand weg:
- Familienkategorien:
- KEY Components Co., LTD ist ein Händler für elektronische Komponenten, der Produktkategorien anbietet, darunter: PMIC - Spannungsregler - Spezialanwendungen, Datenerfassung - Analog-Digital-Wandler (ADC), Datenerfassung - ADCs / DACs - besonderer Zweck, PMIC - Aktuelle Verordnung / Management, Schnittstelle - direkte digitale Synthese (DDS), Logik - Schieberegister, Schnittstelle - Analogschalter, Multiplexer, Demul and Audio-Spezialzweck ...
- Wettbewerbsvorteil:
- Wir sind spezialisiert auf Texas Instruments SN74BCT8373ADWRE4 elektronische Komponenten. SN74BCT8373ADWRE4 kann innerhalb von 24 Stunden nach Bestellung versendet werden. Wenn Sie noch Fragen zu SN74BCT8373ADWRE4 haben, senden Sie uns bitte hier eine Angebotsanfrage oder senden Sie uns eine E-Mail: rfq@key-components.com
SN74BCT8373ADWRE4 Produkteigenschaften
Artikelnummer :
SN74BCT8373ADWRE4
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Serie :
74BCT
Teilestatus :
Obsolete
Logiktyp :
Scan Test Device with D-Type Latches
Versorgungsspannung :
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits :
8
Betriebstemperatur :
0°C ~ 70°C
Befestigungsart :
Surface Mount
Paket / fall :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package :
24-SOIC
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