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- Artikelnummer:
- SN74BCT8374ANT
- Hersteller:
- Texas Instruments
- Detaillierte Beschreibung:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP.
- Standardlieferzeit des Herstellers:
- Auf Lager
- Haltbarkeit:
- Ein Jahr
- Chip von:
- Hongkong
- RoHS:
- Zahlungsmethode:
-
- Versand weg:
- Familienkategorien:
- KEY Components Co., LTD ist ein Händler für elektronische Komponenten, der Produktkategorien anbietet, darunter: Logik - Spezialitätslogik, Embedded - PLDs (Programmable Logic Device), Erinnerung, Schnittstelle - Serialisierer, Deserialisierer, PMIC - Wärmemanagement, PMIC - Spannungsregler - Spezialanwendungen, Logik - Komparatoren and Datenerfassung - Digital / Analog-Wandler (DAC) ...
- Wettbewerbsvorteil:
- Wir sind spezialisiert auf Texas Instruments SN74BCT8374ANT elektronische Komponenten. SN74BCT8374ANT kann innerhalb von 24 Stunden nach Bestellung versendet werden. Wenn Sie noch Fragen zu SN74BCT8374ANT haben, senden Sie uns bitte hier eine Angebotsanfrage oder senden Sie uns eine E-Mail: rfq@key-components.com
SN74BCT8374ANT Produkteigenschaften
Artikelnummer :
SN74BCT8374ANT
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Serie :
74BCT
Teilestatus :
Obsolete
Logiktyp :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung :
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits :
8
Betriebstemperatur :
0°C ~ 70°C
Befestigungsart :
Through Hole
Paket / fall :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Supplier Device Package :
24-PDIP
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