Artikelnummer :
SN74LVTH182502APM
Hersteller :
Texas Instruments
Beschreibung :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Logiktyp :
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung :
2.7V ~ 3.6V
Betriebstemperatur :
-40°C ~ 85°C
Befestigungsart :
Surface Mount
Supplier Device Package :
64-LQFP (10x10)